技術文章_第(13)頁－蘇州英飛思科學儀器有限公司

2025-01-17

合金分析光譜儀是一種基于光譜學原理的高科技檢測儀器，利用不同元素在受到激發(fā)后釋放出光譜的特性，通過測量和分析這些光譜的強度和波長，來確定合金材料中各種元素的種類和含量。它具有高精度、高速度、操作簡便等優(yōu)點，廣泛應用于冶金、機械、石油化工等領域，能夠快速準確地檢測出金屬材料的成分和...

2022
12-15

使用X熒光鍍層測厚儀前應做的準備工作介紹 X熒光鍍層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體上非磁性涂層的厚度，以及非磁性金屬基體上非導電覆層的厚度。本儀器具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產(chǎn)品質量的檢測儀器。廣泛運用于工業(yè)生產(chǎn)測厚中，包含鋼板厚度、卷皮帶厚度等，當然在實驗室精細測量中也有運用，包含航空航天、科研開發(fā)等范疇。本系統(tǒng)配備有冷卻裝置，壓縮機組均采用進口原裝組件，具有可靠性高、噪音小、控溫精度高，經(jīng)久耐用等特點。通過C型架上進出油口進行冷卻。延長了關鍵部件的使用壽命。X射線管裝在一個抽真...
2022
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?EDXRF熒光光譜儀合金分析儀測定白銅合金 ?EDXRF熒光光譜EDX9000A合金分析儀測定白銅合金?直接用白銅合金片樣定性掃描測定Ni,Cu和Zn的X一射線熒光強度值,作強度歸一化可以半定量確定主量元素質量百分數(shù)(%),結果發(fā)現(xiàn)元素之間有明顯的吸收-增強效應.改用溶液濾紙片薄膜制樣測定,強度歸一化的計算值與試樣元素的推薦值十分吻合,說明元素之間的吸收-增強效應基本消除,研究的方法精確度高，重復性好，滿足客戶測試需求。譜處理方式:譜經(jīng)數(shù)字濾波扣除本底和重疊峰,用XML峰擬合法提取峰的凈強度.定量分析:采用基本參數(shù)法(...
2022
12-9

什么是石油X熒光測硫儀？XRF快速測硫儀Compass4294 介紹 X熒光硫測定儀是基于X射線熒光光譜技術分析的一種測試光譜儀。X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。其原理是用X光激發(fā)源照射待分析的油樣，樣品中硫元素的內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候，會放射出硫元素的特征X光。檢測器(Detector)接受這些硫元素的特征X光信號，儀器軟件系統(tǒng)將其轉為對應的測試強度。用標準物質樣品建立特征X射線強度與硫含量之間...
2022
12-9

利用XRF熒光光譜儀Compass300錄井譜圖分析判別巖性利用XRF熒光光譜儀Compass300錄井譜圖分析判別巖性目的探究快速,高效判別錄井巖屑巖性的方法.利用XRF錄井譜圖,分析XRF譜圖與巖性的關系,并應用最小二乘法進行分析.結果通過對客戶3000個樣品的分析結果表明,該方法巖性判別符合率達到80%以上.結論是可以利用標準巖性譜圖比對分析,便可判別出測量樣品的巖性.Compass300能量色散X射線熒光（EDXRF）基于臺式機的設計平臺，其分析性能更接近于功率更高的落地式光譜儀，比一般便攜式設備測試效果更穩(wěn)定，更出眾。配備了...
2022
12-9

用X射線熒光光譜儀測定陶瓷,色料和釉等物料中主量及次量元素 X射線熒光光譜儀EDX9000B測定陶瓷,色料和釉等物料中主量及次量元素采用熔融片制樣用X射線熒光光譜儀EDX9000B對陶瓷,色料和釉物料中Na,Mg,A1,Si,P,S,K,Ca,Ti,Mn,Fe,Ba,Zr,Zn,Hf15種元素進行了測定,用經(jīng)驗系數(shù)法校正基體效應.方法簡便,快速,分析結果的準確度很好能滿足上述物料分析的要求.還用純化學試劑和標準樣品按一定比例混合制備標準樣品,彌補了色料和釉缺少標準或沒有標樣的困難.又對Zr和Hf元素分析線進行了選擇,用ZrLα和HfL...
2022
12-6

高靈敏度光譜儀測金儀用于爐渣中金和銀的分析測定高靈敏度光譜儀EDX8000MAX測金儀用于爐渣中金和銀的測定耐火坩堝用于精煉金(Au)和銀(Ag)。在精煉過程中，少量金屬擴散到坩堝。在其生命周期結束時，坩堝被壓碎并研磨，研磨后的物質稱為渣滓。黃金和從浮渣中回收銀。洗滌液中金銀濃度浮渣一般高于其相應礦石中的濃度。需要測定浮渣中的Au和Ag，了解其商業(yè)價值。常用的分析技術如原子吸收光譜法、光發(fā)射光譜法和電感耦合等離子體質譜法是溶液采樣技術。由于渣滓難熔且具有化學惰性，需要一個復雜而耗時的程序將其帶入解決方案。此外，在分解過程...
2022
12-6

X熒光硫測定儀簡介 X熒光硫測定儀是基于X射線熒光光譜技術分析的一種測試光譜儀。X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。其原理是用X光激發(fā)源照射待分析的油樣，樣品中硫元素的內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候，會放射出硫元素的特征X光。檢測器(Detector)接受這些硫元素的特征X光信號，儀器軟件系統(tǒng)將其轉為對應的測試強度。用標準物質樣品建立特征X射線強度與硫含量之間...

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